Влияние состава и структуры интерфейсных слоев на адгезионные свойства границы раздела TiAl/Al2O3
Методом проекционных присоединенных волн в рамках теории функционала электронной плотности проведено систематическое изучение химической связи на границе раздела γ-TiAl/α-Al2O3(0001) c промежуточными металлическими, оксидными и нитридными слоями. Рассчитаны значения энергии адгезии на интерфейсах...
| Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 66, № 9. С. 37-46 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | , |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001009283 Перейти в каталог НБ ТГУ |
| LEADER | 03434nab a2200385 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | koha001009283 | ||
| 005 | 20260303132724.0 | ||
| 007 | cr | | ||
| 008 | 231108|2023 ru s c rus d | ||
| 024 | 7 | |a 10.17223/00213411/66/9/4 |2 doi | |
| 035 | |a koha001009283 | ||
| 040 | |a RU-ToGU |b rus |c RU-ToGU | ||
| 100 | 1 | |a Бакулин, Александр Викторович |9 89682 | |
| 245 | 1 | 0 | |a Влияние состава и структуры интерфейсных слоев на адгезионные свойства границы раздела TiAl/Al2O3 |c А. В. Бакулин, С. О. Каспарян, С. Е. Кулькова |
| 246 | 1 | 1 | |a Influence of composition and structure of interfacial layers on the adhesion properties of the TiAl/Al2O3 interface |
| 336 | |a Текст | ||
| 337 | |a электронный | ||
| 504 | |a Библиогр.: 36 назв. | ||
| 506 | |a Ограниченный доступ | ||
| 520 | 3 | |a Методом проекционных присоединенных волн в рамках теории функционала электронной плотности проведено систематическое изучение химической связи на границе раздела γ-TiAl/α-Al2O3(0001) c промежуточными металлическими, оксидными и нитридными слоями. Рассчитаны значения энергии адгезии на интерфейсах в зависимости от плоскости разрыва. Показано, что в случае металлических слоев адгезия существенно понижается на границе раздела TiAl/Me, однако остается высокой на интерфейсе Me/α-Al2O3(0001)O, что обусловлено ионным вкладом в механизм химической связи. Результаты расчетов указывают, что оксиды примесей состава Me2O5 и MeO3 существенно влияют на адгезию, причем разрушение будет иметь место в оксиде примеси. Напротив, адгезия на интерфейсе TiN/Al2O3 достигает высоких значений, однако на TiAl/TiN интерфейсе понижается до 5.65 Дж/м2. | |
| 653 | |a граница раздела | ||
| 653 | |a адгезия | ||
| 653 | |a электронная структура | ||
| 653 | |a теория функционала электронной плотности | ||
| 653 | |a экспериментальные исследования | ||
| 655 | 4 | |a статьи в журналах |9 898649 | |
| 700 | 1 | |a Каспарян, Сергей Олегович |9 504872 | |
| 700 | 1 | |a Кулькова, Светлана Евгеньевна |9 66595 | |
| 773 | 0 | |t Известия высших учебных заведений. Физика |d 2023 |g Т. 66, № 9. С. 37-46 |x 0021-3411 |w 0026-80960 | |
| 852 | 4 | |a RU-ToGU | |
| 856 | 4 | |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001009283 | |
| 856 | |y Перейти в каталог НБ ТГУ |u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=1009283 | ||
| 908 | |a статья | ||
| 039 | |b 56 | ||
| 999 | |c 1009283 |d 1009283 | ||