Algorithm for optimizing the parameters of sandwich X-ray detectors
We describe an algorithm for optimizing the parameters of sandwich X-ray detectors in relation to the recognition of materials by the dual energy method. The application of the algorithm is illustrated by a concrete example in which we obtain the thicknesses of the first detector and the intermediat...
| Опубликовано в: : | Russian journal of nondestructive testing Vol. 59, № 3. P. 359-373 |
|---|---|
| Главный автор: | Udod, Victor A. |
| Другие авторы: | Osipov, Sergei P., Nazarenko, Svetlana Yu |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | English |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001017566 |
Похожие документы
-
Algorithm for evaluating errors in recognition of materials in X-ray testing system containing X-ray sandwich detectors
по: Udod, Victor A. -
Алгоритм оптимизации параметров сэндвич-детекторов рентгеновского излучения
по: Удод, Виктор Анатольевич -
Математические модели радиационных прозрачностей объекта контроля при использовании сэндвич-детекторов рентгеновского излучения
по: Удод, Виктор Анатольевич -
Mathematical models of radiation transparency of test objects when using sandwich X-ray radiation detectors
по: Udod, Victor A. -
X-ray inspection systems with sandwich radiation detectors: A survey
по: Udod, Victor A.
