Пропуск в контексте
  • Язык
    • English
    • Русский

Расширенный поиск
  • Система контроля дефектности п...
  • Цитировать
  • Печать
  • Запись для экспорта
    • Экспорт в RefWorks
    • Экспорт в EndNoteWeb
    • Экспорт в EndNote
  • Permanent link
Система контроля дефектности полупроводниковых пластин и структур

Система контроля дефектности полупроводниковых пластин и структур

Библиографическая информация
Опубликовано в: :Актуальные проблемы радиофизики АПР-2023 : 10-я Международная научно-практическая конференция, 26-29 сентября 2023 года, г. Томск : сборник трудов конференции С. 310
Другие авторы: Винник, Александр Евгеньевич, Тяжев, Антон Владимирович, Толбанов, Олег Петрович, Шаймерденова, Лейла Калитаевна, Скакунов, Максим Сергеевич
Формат: Статья в сборнике
Язык:Russian
Предметы:
системы контроля
дефектность
полупроводниковые пластины
полупроводниковые структуры
экспериментальные исследования
статьи в сборниках
Online-ссылка:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133013
  • Фонды
  • Описание
  • Похожие документы
  • Marc-запись

Internet

http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133013

Похожие документы

  • Исследование дефектности сложных поликристаллических слоев арсенида галлия для фотопреобразователей
    по: Юрченко, Алексей Васильевич
  • Мультисенсорная аппаратура контроля дефектности и напряженно-деформированного состояния гетерогенных диэлектрических структур монография
    Публикация: (2014)
  • Облучатель на основе эксиламп для обработки полупроводниковых пластин
  • Мультисенсорная аппаратура контроля дефектности и напряженно-деформированного состояния гетерогенных диэлектрических структур монография
    Публикация: (2014)
  • Термодинамический аспект разрушения пластин арсенида галлия при импульсном отжиге
    по: Смирнов, Серафим Всеволодович
|   Расширенный поиск   |   Советы для поиска   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Загрузка...