Система контроля дефектности полупроводниковых пластин и структур
| Published in: | Актуальные проблемы радиофизики АПР-2023 : 10-я Международная научно-практическая конференция, 26-29 сентября 2023 года, г. Томск : сборник трудов конференции С. 310 |
|---|---|
| Other Authors: | Винник, Александр Евгеньевич, Тяжев, Антон Владимирович, Толбанов, Олег Петрович, Шаймерденова, Лейла Калитаевна, Скакунов, Максим Сергеевич |
| Format: | Book Chapter |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133013 |
Similar Items
-
Исследование дефектности сложных поликристаллических слоев арсенида галлия для фотопреобразователей
by: Юрченко, Алексей Васильевич -
Мультисенсорная аппаратура контроля дефектности и напряженно-деформированного состояния гетерогенных диэлектрических структур монография
Published: (2014) - Облучатель на основе эксиламп для обработки полупроводниковых пластин
-
Мультисенсорная аппаратура контроля дефектности и напряженно-деформированного состояния гетерогенных диэлектрических структур монография
Published: (2014) -
Термодинамический аспект разрушения пластин арсенида галлия при импульсном отжиге
by: Смирнов, Серафим Всеволодович
