Недеструктивный количественный элементный анализ поверхности материалов
Представлены возможности методов резерфордовского обратного рассеяния и метода протон-индуцированной рентгеновской эмиссии, а также особенности их применения для недеструктивной элементной диагностики поверхности материалов. Показано, что совместное использование этих методов позволяет количеств...
| Опубликовано в: : | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 67, № 1. С. 120-125 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Другие авторы: | , |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133809 Перейти в каталог НБ ТГУ |