|
|
|
|
| LEADER |
02794nab a2200361 c 4500 |
| 001 |
koha001133809 |
| 005 |
20240424120121.0 |
| 007 |
cr | |
| 008 |
240419|2024 ru s c rus d |
| 024 |
7 |
|
|a 10.17223/00213411/67/1/14
|2 doi
|
| 035 |
|
|
|a koha001133809
|
| 040 |
|
|
|a RU-ToGU
|b rus
|c RU-ToGU
|
| 100 |
1 |
|
|a Егоров, Евгений Владимирович
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Недеструктивный количественный элементный анализ поверхности материалов
|c Е. В. Егоров, В. К. Егоров, Е. Л. Кореневский
|
| 246 |
1 |
1 |
|a Non-destructive quantitative elemental analysis of the surface of materials
|
| 336 |
|
|
|a Текст
|
| 337 |
|
|
|a электронный
|
| 504 |
|
|
|a Библиогр.: 9 назв.
|
| 506 |
|
|
|a Ограниченный доступ
|
| 520 |
3 |
|
|a Представлены возможности методов резерфордовского обратного рассеяния и метода протон-индуцированной рентгеновской эмиссии, а также особенности их применения для недеструктивной элементной диагностики поверхности материалов. Показано, что совместное использование этих методов позволяет количественно характеризовать химический состав поверхностного слоя различных объектов и определять элементный концентрационный профиль по толщине этого слоя с наноразмерным разрешением. Использование методов продемонстрировано на примерах тонкопленочных покрытий, образцов нефти и текстильной промышленности.
|
| 653 |
|
|
|a количественный анализ
|
| 653 |
|
|
|a элементный состав
|
| 653 |
|
|
|a резерфордовское обратное рассеяние
|
| 653 |
|
|
|a диагностика
|
| 653 |
|
|
|a тонкие пленки
|
| 655 |
|
4 |
|a статьи в журналах
|
| 700 |
1 |
|
|a Егоров, Владимир Константинович
|c канд. физ.-мат. наук
|
| 700 |
1 |
|
|a Кореневский, Егор Леонидович
|
| 773 |
0 |
|
|t Известия высших учебных заведений. Физика
|d 2024
|g Т. 67, № 1. С. 120-125
|x 0021-3411
|w 0026-80960
|
| 852 |
4 |
|
|a RU-ToGU
|
| 856 |
4 |
|
|u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133809
|
| 908 |
|
|
|a статья
|
| 999 |
|
|
|c 1133809
|d 1133809
|
