Недеструктивный количественный элементный анализ поверхности материалов
Представлены возможности методов резерфордовского обратного рассеяния и метода протон-индуцированной рентгеновской эмиссии, а также особенности их применения для недеструктивной элементной диагностики поверхности материалов. Показано, что совместное использование этих методов позволяет количеств...
Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 67, № 1. С. 120-125 |
---|---|
Main Author: | |
Other Authors: | , |
Format: | Article |
Language: | Russian |
Subjects: | |
Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133809 Перейти в каталог НБ ТГУ |