Недеструктивный количественный элементный анализ поверхности материалов
Представлены возможности методов резерфордовского обратного рассеяния и метода протон-индуцированной рентгеновской эмиссии, а также особенности их применения для недеструктивной элементной диагностики поверхности материалов. Показано, что совместное использование этих методов позволяет количеств...
Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 67, № 1. С. 120-125 |
---|---|
Main Author: | Егоров, Евгений Владимирович |
Other Authors: | Егоров, Владимир Константинович канд. физ.-мат. наук, Кореневский, Егор Леонидович |
Format: | Article |
Language: | Russian |
Subjects: | |
Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133809 Перейти в каталог НБ ТГУ |
Similar Items
-
Количественный элементный анализ органических веществ и материалов учебно-методическое пособие : [для студентов 4-5 курсов химической специальности факультета естественных наук, каф. аналитической химии, профиль "Органическая химия"]
Published: (2013) -
Количественный элементный анализ органических соединений курс лекций
by: Баженова, Людмила Николаевна
Published: (2008) - Диагностика наноразмерных сегнетоэлектрических пленок на полупроводниковых и диэлектрических подложках методом РОР-спектроскопии
- Масс-спектрометрический метод определения следов
-
Элементный послойный анализ березовой чаги
by: Филипенко, Виктория Владимировна