Недеструктивный количественный элементный анализ поверхности материалов

Представлены возможности методов резерфордовского обратного рассеяния и метода протон-индуцированной рентгеновской эмиссии, а также особенности их применения для недеструктивной элементной диагностики поверхности материалов. Показано, что совместное использование этих методов позволяет количеств...

Full description

Bibliographic Details
Published in:Известия высших учебных заведений. Физика Т. 67, № 1. С. 120-125
Main Author: Егоров, Евгений Владимирович
Other Authors: Егоров, Владимир Константинович канд. физ.-мат. наук, Кореневский, Егор Леонидович
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001133809
Перейти в каталог НБ ТГУ

Similar Items