Исследование полупроводникового соединения СuAlO2 методом ЯКР Cu

Исследование полупроводникового соединения СuAlO2 методом ЯКР Cu

Методом ядерного квадрупольного резонанса Cu (ЯКР Cu) исследованы образцы полупроводникового соединения CuAlO2. Кристаллическая структура CuAlO2 относится к семейству делафоссита – минерала основного состава CuFeO2. Прозрачные полупроводниковые оксиды, такие, как CuAlO2, привлекли в последнее время...

Full description

Bibliographic Details
Published in:Известия высших учебных заведений. Физика Т. 55, № 2. С. 53-56
Other Authors: Матухин, Вадим Леонидович, Хабибуллин, Илдар Хайдарович, Шульгин, Дмитрий Анатольевич, Шмидт, Станислав Владимирович
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
ядерный квадрупольный резонанс
полупроводниковые оксиды
электрические поля градиентные
термоэлектрические материалы
полупроводники
статьи в журналах
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001139228

Internet

http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001139228

Similar Items