Исследование многокомпонентных наноструктурных (Ti–Zr–Hf–V–Nb)N покрытий ядерно-физическими методами анализа до и после термического отжига

С помощью различных взаимодополняющих методов элементно-структурного анализа, таких, как медленный пучок позитронов (SPB), микропучок протонов (μ-PIXE), микро- и нанопучок электронов (EDS- и SEM-анализ), метод фазово-структурного анализа XRD, метод «a – sin2ϕ» измерений напряженно-деформированного с...

Full description

Bibliographic Details

Published in:	Известия высших учебных заведений. Физика Т. 56, № 5. С. 41-50
Other Authors:	Погребняк, Александр Дмитриевич, Береснев, Вячеслав Мартынович, Бондарь, Александр Вячеславович, Каверин, Михаил Валерьевич, Пономарев, Александр Георгиевич
Format:	Article
Language:	Russian
Subjects:	наноструктурные покрытия дефекты примеси сегрегация термодиффузия термический отжиг ядерно-физические методы статьи в журналах
Online Access:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001140246