Исследование многокомпонентных наноструктурных (Ti-Zr-Hf-V-Nb)N покрытий ядерно-физическими методами анализа до и после термического отжига

С помощью различных взаимодополняющих методов элементно-структурного анализа, таких, как медленный пучок позитронов (SPB), микропучок протонов (μ-PIXE), микро- и нанопучок электронов (EDS- и SEM-анализ), метод фазово-структурного анализа XRD, метод «a - sin2ϕ» измерений напряженно-деформированного...

Полное описание

Библиографическая информация

Опубликовано в: :	Известия высших учебных заведений. Физика Т. 56, № 5. С. 41-50
Другие авторы:	Погребняк, Александр Дмитриевич, Береснев, Вячеслав Мартынович, Бондарь, Александр Вячеславович, Каверин, Михаил Валерьевич, Пономарев, Александр Георгиевич
Формат:	Статья в журнале
Язык:	Russian
Предметы:	наноструктурные покрытия дефекты примеси сегрегация термодиффузия термический отжиг ядерно-физические методы статьи в журналах
Online-ссылка:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001140246 Перейти в каталог НБ ТГУ