Исследование многокомпонентных наноструктурных (Ti-Zr-Hf-V-Nb)N покрытий ядерно-физическими методами анализа до и после термического отжига

С помощью различных взаимодополняющих методов элементно-структурного анализа, таких, как медленный пучок позитронов (SPB), микропучок протонов (μ-PIXE), микро- и нанопучок электронов (EDS- и SEM-анализ), метод фазово-структурного анализа XRD, метод «a - sin2ϕ» измерений напряженно-деформированного...

Full description

Bibliographic Details
Published in:Известия высших учебных заведений. Физика Т. 56, № 5. С. 41-50
Other Authors: Погребняк, Александр Дмитриевич, Береснев, Вячеслав Мартынович, Бондарь, Александр Вячеславович, Каверин, Михаил Валерьевич, Пономарев, Александр Георгиевич
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001140246
Перейти в каталог НБ ТГУ
LEADER 04446nab a2200397 c 4500
001 koha001140246
005 20240604133428.0
007 cr |
008 240528|2013 ru s c rus d
035 |a koha001140246 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
245 1 0 |a Исследование многокомпонентных наноструктурных (Ti-Zr-Hf-V-Nb)N покрытий ядерно-физическими методами анализа до и после термического отжига  |c А. Д. Погребняк, В. М. Береснев, А. В. Бондарь [и др.] 
336 |a Текст 
337 |a электронный 
504 |a Библиогр.: 35 назв. 
520 3 |a С помощью различных взаимодополняющих методов элементно-структурного анализа, таких, как медленный пучок позитронов (SPB), микропучок протонов (μ-PIXE), микро- и нанопучок электронов (EDS- и SEM-анализ), метод фазово-структурного анализа XRD, метод «a - sin2ϕ» измерений напряженно-деформированного состояния (рентгеновская тензометрия), исследованы многокомпонентные, наноструктурные покрытия из (Ti-Zr-Hf-V-Nb)N толщиной 1,0-1,4 мкм, полученные методом Сathodic - Arc - Vapor - Deposition при температуре синтеза 250-300 ºС. В данных покрытиях были изучены элементный состав, микроструктура, остаточные напряжения в нанозернах, профили распределения дефектов и атомов по глубине и на поверхности покрытия в 3D-представлении, исследован фазовый состав, напряженно-деформированное состояние, текстура покрытий до и после отжига при Тотж = 600 ºС и времени отжига τ = 30 мин. Показано, что можно в значительной степени повысить устойчивость рассматриваемых покрытий к окислению при высокотемпературном отжиге образованием значительного упругого напряженно-деформированного состояния сжатия в покрытии. Было обнаружено перераспределение элементов и дефектов, их сегрегация вблизи границ раздела интерфейсов, вокруг зерен и субзерен за счет термостимулированной диффузии и окончания процесса спинодальной сегрегации, без значительного изменения среднего размера нанозерен. 
653 |a наноструктурные покрытия 
653 |a дефекты 
653 |a примеси 
653 |a сегрегация 
653 |a термодиффузия 
653 |a термический отжиг 
653 |a ядерно-физические методы 
655 4 |a статьи в журналах  |9 963519 
700 1 |a Погребняк, Александр Дмитриевич  |9 401492 
700 1 |a Береснев, Вячеслав Мартынович  |9 419315 
700 1 |a Бондарь, Александр Вячеславович  |9 963521 
700 1 |a Каверин, Михаил Валерьевич  |9 962914 
700 1 |a Пономарев, Александр Георгиевич  |9 963523 
773 0 |t Известия высших учебных заведений. Физика  |d 2013  |g Т. 56, № 5. С. 41-50  |x 0021-3411  |w 0026-80960 
852 4 |a RU-ToGU 
856 4 |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001140246 
856 |y Перейти в каталог НБ ТГУ  |u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=1140246 
908 |a статья 
039 |b 100 
999 |c 1140246  |d 1140246