| Summary: | Электрический пробой в бортовой аппаратуре орбитальных космических аппаратов является следствием многофакторного физического процесса, имеющего отношение к вакуумной электронике, физике низкотемпературной плазмы и газового разряда. Проблема ставится особенно остро в связи с использованием напряжения бортовой сети 100 В и выше, что выше порога дугообразования. Данная проблема активно исследуется в течение более 10 лет, и в результате в настоящее время в мире действует ряд стандартов, регламентирующих меры по предотвращению вторичной дуги как следствия электростатического пробоя. Однако дугообразование, вызванное внутренними процессами в бортовой аппаратуре без высоковольтного инициирования, практически не изучается, несмотря на существование такой проблемы, делающей подобные исследования актуальными. Настоящая работа содержит результаты экспериментов по регистрации пороговых параметров, прежде всего давления, определяющих риск вторичного дугообразования при наличии плазмы, имитирующей плазму первичного разряда, вызванного испарением проводника. Результаты экспериментов подтверждают ожидаемое понижение пороговых значений напряжения пробоя ниже значений минимумов кривой Пашена. Используемые в работе эксперимен-тальные подходы представляют методологический интерес для имитации условий дугообразования и тестирования аппаратуры на устойчивость к дугообразованию в условиях орбитального космического пространства.
|
|---|
