Концентрация электронов в приповерхностном варизонном слое МЛЭ n-Hg1–xCdxTe (x = 0.22–0.40), определенная из емкостных измерений МДП-структур

В диапазоне температур 9–77 К экспериментально исследованы вольт-фарадные характеристики (ВФХ) МДП-структур на основе варизонного n-Hg₁₋ₓCdₓTe (x = 0.22–0.40), выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии. По значению емкости в минимуме ВФХ определены концентрации основных носителей заряда в пр...

Full description

Bibliographic Details

Published in:	Известия высших учебных заведений. Физика Т. 60, № 1. С. 109-118
Other Authors:	Войцеховский, Александр Васильевич, Несмелов, Сергей Николаевич, Дзядух, Станислав Михайлович, Григорьев, Денис Валерьевич, Ляпунов, Дмитрий Владимирович
Format:	Article
Language:	Russian
Subjects:	МДП-структуры теллурид кадмия-ртути молекулярно-лучевая эпитаксия концентрация электронов экспериментальные исследования статьи в журналах
Online Access:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001141677