Использование жесткого синхротронного излучения для дифракционных исследований композиционных и функциональных материалов
Рассматриваются возможности использования жесткого, с энергией квантов выше 25 кэВ, синхротронного излучения (СИ) для решения разнообразных задач по исследованию структурных изменений, происходящих с материалами. Проводится оценка преимуществ и ограничений, появляющихся при использование жесткого СИ...
| Опубликовано в: : | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 60, № 3. С. 150-156 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001141802 |
| Итог: | Рассматриваются возможности использования жесткого, с энергией квантов выше 25 кэВ, синхротронного излучения (СИ) для решения разнообразных задач по исследованию структурных изменений, происходящих с материалами. Проводится оценка преимуществ и ограничений, появляющихся при использование жесткого СИ для дифракционных исследований. Приводится обзор основных методик, при использовании которых применение жесткого СИ не только облегчает проведение ряда экспериментов, но зачастую позволяет получить новую структурную информацию, недоступную при использовании излучения от рентгеновских трубок. |
|---|---|
| Библиография: | Библиогр.: 8 назв. |
| ISSN: | 0021-3411 |