Рост эпитаксиальных пленок SiSn с высоким содержанием Sn для преобразователей в ИК-области

Проведены исследования роста соединений SiSn с содержанием Sn от 10 до 35 %. Изучена морфология и структура поверхности слоев SiSn, а также установлена кинетическая диаграмма морфологического состояния пленок SiSn в диапазоне температур 150–450 °С. При росте пленок SiSn от 150 до 300 °С наблюдались...

Полное описание

Библиографическая информация
Опубликовано в: :Известия высших учебных заведений. Физика Т. 60, № 2. С. 135-140
Другие авторы: Тимофеев, Вячеслав Алексеевич, Никифоров, Александр Иванович, Коханенко, Андрей Павлович, Туктамышев, Артур Раисович, Машанов, Владимир Иванович, Лошкарев, Иван Дмитриевич, Новиков, Вадим Александрович
Формат: Статья в журнале
Язык:Russian
Предметы:
Online-ссылка:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001141916