Лазаренко, П. И., Козюхин, С. А., Шерченков, А. А., Бабич, А. В., Тимошенков, С. П., Громов, Д. Г., . . . Козик, В. В. Электрофизические свойства тонких пленок системы Ge–Sb–Te для устройств фазовой памяти. Известия высших учебных заведений. Физика, 0026-80960(2016), .
Chicago-стиль цитированияЛазаренко, Петр Иванович, Сергей Александрович Козюхин, Алексей Анатольевич Шерченков, Алексей Вальтерович Бабич, Сергей Петрович Тимошенков, Дмитрий Геннадьевич Громов, Анастасия Владимировна Заболотская, and Владимир Васильевич Козик. "Электрофизические свойства тонких пленок системы Ge–Sb–Te для устройств фазовой памяти." Известия высших учебных заведений. Физика 0026-80960, no. 2016 ().
MLA-цитированиеЛазаренко, Петр Иванович, et al. "Электрофизические свойства тонких пленок системы Ge–Sb–Te для устройств фазовой памяти." Известия высших учебных заведений. Физика, vol. 0026-80960, no. 2016, .
