| Итог: | Методом открытого квазиоптического резонатора в полосе частот от 8.2 до 15.5 ГГц проведены исследования полуволнового резонанса сверхтонких проводников, полученных с помощью различных технологий. Проведено сопоставление измеренных данных с расчетными. Показано, что для остеклованного микропровода и фильерной микропроволоки, изготовленных из сплавов с удельным сопротивлением более 105 См/м величина измеренной резонансной длины меньше расчетной. Это, предположительно, связано с влиянием поверхности, в том числе наноструктурного переходного слоя микропровода. Также проведены измерения образцов микропровода из сплавов с естественным ферромагнитным резонансом. Показано, что длина полуволнового резонанса для них заметно больше, чем для проводников с близким значением удельной проводимости, но не обладающих магнитными свойствами.
|
|---|
