Резонансные характеристики отрезков микропровода как элементов композиционных материалов
Методом открытого квазиоптического резонатора в полосе частот от 8.2 до 15.5 ГГц проведены исследования полуволнового резонанса сверхтонких проводников, полученных с помощью различных технологий. Проведено сопоставление измеренных данных с расчетными. Показано, что для остеклованного микропровода и...
| Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 59, № 12. С. 88-94 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001142184 Перейти в каталог НБ ТГУ |