Влияние легирования железом на свойства диоксида ванадия

Сообщаются результаты исследований рентгеноструктурных параметров кристаллической решетки и их температурных зависимостей в окрестностях фазового перехода металл - диэлектрик твердых растворов V1-xFexO2, а также сравнений рентгеновской и пикнометрической плотности этих материалов. Проводится о...

Full description

Bibliographic Details

Published in:	Известия высших учебных заведений. Физика Т. 60, № 10. С. 153-156
Other Authors:	Суриков, Вадим Иванович, Суриков, Валерий Иванович, Семенюк, Наталья Андреевна, Прокудина, Наталья Анатольевна
Format:	Article
Language:	Russian
Subjects:	диоксид ванадия рентгеновская плотность пикнометрическая плотность кристаллические решетки концентрация дефектов статьи в журналах
Online Access:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001142315 Перейти в каталог НБ ТГУ