Возможный метод диагностики субфемтосекундных электронных пучков по когерентному оптическому переходному излучению
Когерентное переходное излучение (КПИ) широко используется для определения продольных размеров электронных пучков в ускорительной технике. Рассматривается процесс КПИ в реальной Au-мишени для определения размеров электронных пучков длительностью от 100 до 300 нм и показана возможность использовани...
| Опубликовано в: : | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 61, № 11. С. 117-121 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Другие авторы: | |
| Формат: | Статья в журнале |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001148145 Перейти в каталог НБ ТГУ |
| Итог: | Когерентное переходное излучение (КПИ) широко используется для определения продольных размеров электронных пучков в ускорительной технике. Рассматривается процесс КПИ в реальной Au-мишени для определения размеров электронных пучков длительностью от 100 до 300 нм и показана возможность использования таких мишеней. |
|---|---|
| Библиография: | Библиогр.: 14 назв. |
| ISSN: | 0021-3411 |