Skip to content
  • Language
    • English
    • Русский

Advanced
  • Определение зависимости длины...
  • Cite this
  • Print
  • Export Record
    • Export to RefWorks
    • Export to EndNoteWeb
    • Export to EndNote
  • Permanent link
Определение зависимости длины диффузии атомов Si на поверхности при гомоэпитаксиальном росте на Si(100)

Определение зависимости длины диффузии атомов Si на поверхности при гомоэпитаксиальном росте на Si(100)

Bibliographic Details
Published in:Материалы и технологии фотоники, электроники и нелинейной оптики : материалы всероссийской конференции с международным участием, 10-13 сентября 2024 г. С. 52
Main Author: Кукенов, Олжас Игоревич
Other Authors: Дирко, Владимир Владиславович, Майер, Ксения Александровна
Format: Book Chapter
Language:Russian
Subjects:
кремний
гомоэпитаксиальный рост
диффузия атомов
экспериментальные исследования
статьи в сборниках
Online Access:https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001151571
Перейти в каталог НБ ТГУ
  • Holdings
  • Description
  • Similar Items
  • Staff View

Internet

https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:001151571
Перейти в каталог НБ ТГУ

Similar Items

  • Реконструкция поверхности Ge 2хN на Si(100) в широком температурном диапазоне
    by: Кукенов, Олжас Игоревич
  • Анализ длины димерного ряда при гетероэпитаксиальном росте Ge/Si(100) методом дифракции быстрых отраженных электронов
    by: Кукенов, Олжас Игоревич
  • О роли адсорбированных димеров кремния в кинетике движения атомных ступеней на поверхности Si(100)
    by: Эрвье, Юрий Юрьевич
  • Анализ изменения поверхности при росте Ge, GeSi на Si(100) и Si(111) методом дифракции быстрых электронов
  • Особенности осцилляций интенсивности дифракционных картин при эпитаксии Si/Si(100) и Ge/Si(100)
    by: Кукенов, Олжас Игоревич
|   Advanced Search   |   Search Tips   |

Большой университет Томска
https://university-tomsk.ru/
Loading...