Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография

Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография

Bibliographic Details
Main Author: Боуэн, Д. К.
Other Authors: Таннер, Б. К., Шульпина, И. Л. (Editor)
Format: Book
Language:Russian
Published: СПб. Наука 2002
Subjects:
полупроводниковое материаловедение.
электронная техника.
рентгеновские дифракционные методы.
кристаллы.
рентгеновская топография.
детекторы.
эпитаксиальные слои.
тонкие пленки.
многослойные системы.
синхротронное излучение.
компьютерное моделирование.
дифрактометрия.
Online Access:Перейти в каталог НБ ТГУ

Internet

Перейти в каталог НБ ТГУ

Научная библиотека ТГУ: Книгохранилище

Holdings details from Научная библиотека ТГУ: Книгохранилище
Call Number: 1-898189к 548
1-904846
1-904847 54
Available  Place a Hold
Available  Place a Hold
Available  Place a Hold

Similar Items