Экспериментальные методы исследования методики туннельной и атомно-силовой микроскопии : [учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавров "Техническая физика"]

Экспериментальные методы исследования методики туннельной и атомно-силовой микроскопии : [учебное пособие для студентов высших учебных заведений, обучающихся по направлению подготовки бакалавров "Техническая физика"]

Bibliographic Details
Main Author:	Андреева, Наталья Владимировна
Other Authors:	Габдуллин, Павел Гарифович, Журкин, Алексей Михайлович
Format:	eBook
Language:	Russian
Published:	Санкт-Петербург Издательство Санкт-Петербургского государственного политехнического университета 2015
Subjects:	электронные учебные пособия для вузов сканирующая туннельная микроскопия туннелирование квантовое микроскопическое физическая электроника взаимодействие частиц с поверхностью твердого тела эмиссия электронов потенциальные барьеры Зоммерфельда модель металла туннельные контакты сканирующие туннельные микроскопы сканирующие зондовые микроскопы полупроводники. модуляция туннельного тока визуализация поверхностей. сканирующая зондовая микроскопия плотность электронных состояний сканирующая туннельная спектроскопия металл-полупроводник, контакты атомно-силовая микроскопия кантилеверы сканеры системы обратной связи система подвода зонда к образцу обработка изображений. фильтрация изображений анализ изображений лабораторные работы.
Online Access:	http://sun.tsu.ru/limit/2017/000563076/000563076.pdf Перейти в каталог НБ ТГУ

Internet

http://sun.tsu.ru/limit/2017/000563076/000563076.pdf
Перейти в каталог НБ ТГУ