Parallel algorithm for constructing k-valued fault-tolerant diagnostic tests in intelligent systems

Библиографическая информация
Опубликовано в: :	Pattern recognition and image analysis Vol. 22, № 3. P. 473-482
Главный автор:	Yankovskaya, Anna Efimovna
Соавтор:	Томский государственный университет Факультет информатики Кафедра программной инженерии
Другие авторы:	Kitler, Sergey Vladimirovich
Формат:	Статья в журнале
Язык:	English
Предметы:	диагностические тесты параллельные алгоритмы интеллектуальные системы статьи в журналах
Online-ссылка:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000444664 Перейти в каталог НБ ТГУ


LEADER	01591nab a2200313 i 4500
001	vtls000444664
003	RU-ToGU
005	20210906213435.0
007	cr \|
008	181202 2012 ru s a eng d
024	7		\|a 10.1134/S105466181203008X \|2 doi
035			\|a to000444664
039		9	\|a 201812021556 \|c 201809061444 \|d cat34 \|c 201610251005 \|d cat202 \|c 201607220820 \|d cat202 \|y 201302261245 \|z Александр Эльверович Гилязов
040			\|a RU-ToGU \|b rus \|c RU-ToGU
100	1		\|a Yankovskaya, Anna Efimovna \|9 570063
245	1	0	\|a Parallel algorithm for constructing k-valued fault-tolerant diagnostic tests in intelligent systems \|c A. E. Yankovskaya, S. V. Kitler
504			\|a Библиогр.: 25 назв.
653			\|a диагностические тесты
653			\|a параллельные алгоритмы
653			\|a интеллектуальные системы
655		4	\|a статьи в журналах \|9 681159
700	1		\|a Kitler, Sergey Vladimirovich \|9 130000
710	2		\|a Томский государственный университет \|b Факультет информатики \|b Кафедра программной инженерии \|9 86658
773	0		\|t Pattern recognition and image analysis \|d 2012 \|g Vol. 22, № 3. P. 473-482 \|x 1054-6618
852	4		\|a RU-ToGU
856	7		\|u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000444664
856			\|y Перейти в каталог НБ ТГУ \|u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=26368
908			\|a статья
999			\|c 26368 \|d 26368

Похожие документы