Рентгеновский 3D микротомограф для исследования радиоэлектронной аппаратуры

Bibliographic Details
Published in:Инноватика - 2015 : сборник материалов XI Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 21-23 мая 2015 г., г. Томск, Россия С. 56-59
Main Author: Сырямкин, Владимир Иванович
Corporate Authors: Томский государственный университет Факультет инновационных технологий Кафедра управления качеством, Томский государственный университет Факультет инновационных технологий Научные подразделения ФИТ, Томский государственный университет Факультет инновационных технологий Публикации студентов и аспирантов ФИТ
Other Authors: Клестов, Семен Александрович, Баус, Станислав Сергеевич
Format: Book Chapter
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000523484