Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках

Bibliographic Details
Main Authors: Вавилов, Виктор Сергеевич, Кив, Арик Ефимович (Author), Ниязова, Озод Рахимовна (Author)
Format: Book
Language:Russian
Published: М. Наука 1981
Series:Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП
Subjects:
Online Access:Перейти в каталог НБ ТГУ

Internet

Перейти в каталог НБ ТГУ

Научная библиотека ТГУ: Книгохранилище

Holdings details from Научная библиотека ТГУ: Книгохранилище
Call Number: 1-441641к
Available  Place a Hold