Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках

Bibliographic Details
Main Authors: Вавилов, Виктор Сергеевич, Кив, Арик Ефимович (Author), Ниязова, Озод Рахимовна (Author)
Format: Book
Language:Russian
Published: М. Наука 1981
Series:Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП
Subjects:
Online Access:Перейти в каталог НБ ТГУ
Description
Physical Description:368 с. ил. 20 см.
Bibliography:Библиогр.: с. 332-360, 367-368 (30 назв.)
ISBN:В пер. (В пер.)