|
|
|
|
| LEADER |
01526nam a2200301 i 4500 |
| 001 |
vtls000407225 |
| 003 |
RU-ToGU |
| 005 |
20210909185524.0 |
| 008 |
110517s1981 ||| u| u ||rus d |
| 020 |
|
|
|a В пер. (В пер.)
|c 2 р. 90 к.
|
| 035 |
|
|
|a to000407225
|
| 039 |
|
9 |
|y 201105171916
|z Александр Эльверович Гилязов
|
| 040 |
|
|
|a RKP
|b rus
|e PSBO
|d RU-ToGU
|
| 041 |
0 |
|
|a rus
|
| 080 |
|
|
|a 537.311.322:548.4
|
| 084 |
|
|
|a 17.4.6
|2 rueskl
|
| 100 |
1 |
|
|a Вавилов, Виктор Сергеевич
|9 566558
|
| 245 |
1 |
0 |
|a Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках
|c В. С. Вавилов, А. Е. Кив, О. Р. Ниязова
|
| 260 |
|
|
|a М.
|b Наука
|c 1981
|9 687413
|
| 300 |
|
|
|a 368 с.
|b ил.
|c 20 см.
|
| 490 |
0 |
|
|a Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП
|
| 504 |
|
|
|a Библиогр.: с. 332-360, 367-368 (30 назв.)
|
| 653 |
0 |
|
|a Полупроводники - Дефекты
|
| 700 |
1 |
|
|a Кив, Арик Ефимович
|e авт.
|4 aut
|9 178069
|
| 700 |
1 |
|
|a Ниязова, Озод Рахимовна
|e авт.
|4 aut
|9 178070
|
| 856 |
|
|
|y Перейти в каталог НБ ТГУ
|u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=297974
|
| 999 |
|
|
|c 297974
|d 297974
|
| 952 |
|
|
|0 0
|1 0
|4 0
|6 1441641К
|7 0
|9 523022
|a RU-ToGU
|b RU-ToGU
|c 10024
|d 2021-04-04
|g 2.90
|l 0
|o 1-441641к
|p 13820000765694
|r 2021-04-04
|w 2021-04-04
|y 1
|
