Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках

Механизмы образования и миграции дефектов в полупроводниках

Show other versions (1)
Bibliographic Details
Main Authors: Вавилов, Виктор Сергеевич, Кив, Арик Ефимович (Author), Ниязова, Озод Рахимовна (Author)
Format: Book
Language:Russian
Published: М. Наука 1981
Series:Физика полупроводников и полупроводниковых приборов. ФПиПП
Subjects:
Полупроводники - Дефекты
Online Access:Перейти в каталог НБ ТГУ

Similar Items

Similar Items