Исследование дефектов структуры в полупроводниках A3B5 методом позитронной аннигиляционной спектроскопии
| Published in: | Девятая конференция "Арсенид галлия и полупроводниковые соединения группы III-V", 3-5 октября 2006 г., Томск, Россия : материалы конференции С. 92-95 |
|---|---|
| Other Authors: | , , |
| Format: | Book Chapter |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | Перейти в каталог НБ ТГУ |