Robust PDFs testing of combinational circuits based on covering BDDs

Robust PDFs testing of combinational circuits based on covering BDDs

Bibliographic Details
Published in:Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 3 (20). С. 129-138
Corporate Author: Томский государственный университет Факультет прикладной математики и кибернетики Кафедра программирования
Other Authors: Nikolaeva, Ekaterina A., Ostanin, Sergey A., Singh, Virendra, Matrosova, Anzhela Yu
Format: Article
Language:English
Subjects:
задержки путей схемы
робастно тестируемый путь
бинарные решающие программы
контролепригодное проектирование
ПЛИС
статьи в журналах
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000442846
Перейти в каталог НБ ТГУ

Internet

http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000442846
Перейти в каталог НБ ТГУ

Similar Items