Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов монография

Bibliographic Details
Corporate Authors:	Томский политехнический университет, Томский государственный архитектурно-строительный университет, Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск)
Other Authors:	Клопотов, Анатолий Анатольевич, Абзаев, Юрий Афанасьевич 1953-, Потекаев, Александр Иванович 1951-
Format:	eBook
Language:	Russian
Published:	Томск Издательство Томского политехнического университета 2013
Subjects:	рентгеновское излучение кристаллография геометрическая дифрактограммы кристаллические решетки сингонии фазовый анализ количественный фазовый анализ качественный рентгеновская дифрактометрия взаимодействие рентгеновского излучения с веществом поликристаллические материалы Ритвельда метод рентгенофазного анализа полнопрофильный монографии
Online Access:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000462825 Перейти в каталог НБ ТГУ

Holdings details from Научная библиотека ТГУ: Читальный зал 5
Call Number:	548 Ф505
	Available Place a Hold

Similar Items