Исследование электрических характеристик структур TiO2-Si

Библиографическая информация
Опубликовано в: :Известия высших учебных заведений. Физика Т. 56, № 8/3. С. 147-149
Корпоративные авторы: Томский государственный университет Радиофизический факультет Публикации студентов и аспирантов РФФ, Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра полупроводниковой электроники, Томский государственный университет Физический факультет Кафедра физики полупроводников, Томский государственный университет Радиофизический факультет Научные подразделения РФФ, Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ
Другие авторы: Зарубин, Андрей Николаевич, Калыгина, Вера Михайловна, Новиков, Вадим Александрович, Петрова, Юлианна Сергеевна, Прудаев, Илья Анатольевич, Толбанов, Олег Петрович, Черников, Евгений Викторович, Яскевич, Тамара Михайловна, Цупий, Светлана Юрьевна
Формат: Статья в журнале
Язык:Russian
Предметы:
Online-ссылка:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000468359