Исследование характеристик наногетероструктур Si/Ge с квантовыми точками методом адмиттансной спектроскопии

Bibliographic Details
Published in:Известия высших учебных заведений. Физика Т. 55, № 9/2. С. 5-7
Corporate Authors: Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра квантовой электроники и фотоники, Томский государственный университет Радиофизический факультет Публикации студентов и аспирантов РФФ, Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ
Other Authors: Сатдаров, Вадим Газизович, Коханенко, Андрей Павлович, Калин, Евгений Андреевич, Никифоров, Александр Иванович, Дзядух, Станислав Михайлович, Войцеховский, Александр Васильевич
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000472338