Поиск всех тестовых наборов для неисправности логической схемы и представление их ROBDD-графом

Поиск всех тестовых наборов для неисправности логической схемы и представление их ROBDD-графом

Show other versions (1)
Bibliographic Details
Published in:Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 2. С. 82-89
Corporate Authors: Томский государственный университет Факультет прикладной математики и кибернетики Кафедра программирования, Томский государственный университет Факультет прикладной математики и кибернетики Публикации студентов и аспирантов ФПМК
Other Authors: Останин, Сергей Александрович, Бухаров, Александр Вениаминович, Кириенко, Ирина Евгеньевна, Матросова, Анжела Юрьевна
Format: Article
Language:Russian
Subjects:
ROBDD-графы
логические схемы
константные неисправности
проверяющие тесты
статьи в журналах
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000481003
Перейти в каталог НБ ТГУ

Internet

http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000481003
Перейти в каталог НБ ТГУ

Similar Items