Increasing Manufacturing Yield Using Partially Programmable Circuits with CLB implementation of Incompletely Specified Boolean Function of the Corresponding Sub-circuit

Increasing Manufacturing Yield Using Partially Programmable Circuits with CLB implementation of Incompletely Specified Boolean Function of the Corresponding Sub-circuit

Bibliographic Details
Published in:Proceedings 2015 IEEE : 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2015), 22-24 April 2015, Belgrade, Serbia P. 267-270
Main Author: Matrosova, Anzhela Yu
Corporate Authors: Томский государственный университет Факультет прикладной математики и кибернетики Кафедра программирования, Томский государственный университет Научное управление Лаборатории НУ, Томский государственный университет Факультет прикладной математики и кибернетики Публикации студентов и аспирантов ФПМК
Other Authors: Ostanin, Sergey A., Kirienko, Irina E.
Format: Book Chapter
Language:English
Subjects:
константные неисправности
проверяющие тесты
булевы функции
конфигурируемые логические блоки
частично программируемые схемы
статьи в сборниках
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000520576
Перейти в каталог НБ ТГУ

Internet

http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000520576
Перейти в каталог НБ ТГУ

Similar Items