Механизмы рекомбинации в структурах InGaN/GaN с квантовыми ямами при высоких уровнях возбуждения
Published in: | Известия высших учебных заведений. Физика Т. 58, № 8/2. С. 271-273 |
---|---|
Main Author: | Войцеховский, Александр Васильевич |
Corporate Authors: | Томский государственный университет Радиофизический факультет Кафедра квантовой электроники и фотоники, Томский государственный университет Сибирский физико-технический институт Научные подразделения СФТИ |
Other Authors: | Горн, Дмитрий Игоревич |
Format: | Article |
Language: | Russian |
Subjects: | |
Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000522392 |
Similar Items
- Влияние сверхрешетки на внутреннюю квантовую эффективность светодиодных структур с квантовыми ямами InGaN/GaN
- Внешний квантовый выход светодиодных структур InGaN/GaN, выращенных на профилированной сапфировой подложке
- Photoluminescence and terahertz generation in InGaN/GaN multiple quantum well light-emitting diode heterostructures under laser excitation
- Влияние толщины барьеров светодиодных гетероструктур (0001) InGaN/GaN/Al2O3 на их оптические характеристики
- Влияние баллистической утечки на температурную зависимость квантового выхода светодиодов на основе множественных квантовых ям InGaN/GaN