A high performance scan flip-flop design for serial and mixed mode scan test

Bibliographic Details
Published in:	2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 4-6 July 2016, Hotel Eden Roc, Sant Feliu de Guixols, Catalunya, Spain P. 233-238
Other Authors:	Ahlawat, Satyadev, Matrosova, Anzhela Yu, Singh, Virendra, Tudu, Jaynarayan
Format:	Book Chapter
Language:	English
Subjects:	триггеры мультиплексоры сканирование статьи в сборниках
Online Access:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000616264 Перейти в каталог НБ ТГУ


LEADER	01468naa a2200325 c 4500
001	vtls000616264
003	RU-ToGU
005	20230319210743.0
007	cr \|
008	171102s2016 xx fs 100 0 eng d
024	7		\|a 10.1109/IOLTS.2016.7604709 \|2 doi
035			\|a to000616264
039		9	\|a 201711131032 \|c 201711021630 \|d VLOAD \|y 201711021601 \|z Александр Эльверович Гилязов
040			\|a RU-ToGU \|b rus \|c RU-ToGU
245	1	2	\|a A high performance scan flip-flop design for serial and mixed mode scan test \|c S. Ahlawat, J. Tudu, A. Matrosova, V. Singh
504			\|a Библиогр.: 17 назв.
653			\|a триггеры
653			\|a мультиплексоры
653			\|a сканирование
655		4	\|a статьи в сборниках \|9 879352
700	1		\|a Ahlawat, Satyadev \|9 473673
700	1		\|a Matrosova, Anzhela Yu. \|9 106598
700	1		\|a Singh, Virendra \|9 385576
700	1		\|a Tudu, Jaynarayan \|9 473674
773	0		\|t 2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 4-6 July 2016, Hotel Eden Roc, Sant Feliu de Guixols, Catalunya, Spain \|d [S. l.], 2016 \|g P. 233-238 \|z 9781509015061
852	4		\|a RU-ToGU
856	7		\|u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000616264
856			\|y Перейти в каталог НБ ТГУ \|u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=420406
908			\|a статья
999			\|c 420406 \|d 420406

Similar Items