Измерение времени жизни неравновесных носителей заряда в поликристаллическом кремнии СВЧ-методом
The article is devoted to the possibilities of measuring the lifetime of nonequilibrium charge carriers in polycrystalline silicon by microwave method. The results of measurements of the lifetime in the samples of polycrystalline silicon
| Published in: | Инноватика - 2019 : сборник материалов XV Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 25-27 апреля 2019 г., г. Томск, Россия С. 76-81 |
|---|---|
| Other Authors: | , , , |
| Format: | Book Chapter |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000671521 Перейти в каталог НБ ТГУ |