Ближнепольная интерференционная СВЧ микроскопия в условиях нарушенного полного внутреннего отражения
| Опубликовано в: : | IX Международная научно-практическая конференция "Информационно-измерительная техника и технологии" в рамках Международного форума "Интеллектуальные системы 4-й промышленной революции", 21-24 ноября 2018 года, г. Томск : сборник тезисов конференции С. 74-76 |
|---|---|
| Другие авторы: | , , , , |
| Формат: | Статья в сборнике |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000658429 Перейти в каталог НБ ТГУ |