Ближнепольная интерференционная СВЧ микроскопия в условиях нарушенного полного внутреннего отражения
| Published in: | IX Международная научно-практическая конференция "Информационно-измерительная техника и технологии" в рамках Международного форума "Интеллектуальные системы 4-й промышленной революции", 21-24 ноября 2018 года, г. Томск : сборник тезисов конференции С. 74-76 |
|---|---|
| Other Authors: | , , , , |
| Format: | Book Chapter |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000658429 Перейти в каталог НБ ТГУ |