Исследование эпитаксиальных гетерослоев GeSi/Si методом рентгеновской дифрактометрии

Bibliographic Details
Published in:	Физика твердого тела : сборник материалов XVI Российской научной студенческой конференции, Томск, 17–20 апреля 2018 г. С. 205-206
Main Author:	Карева, Катерина Валерьевна
Other Authors:	Дирко, Владимир Владиславович, Заяханов, Владимир Александрович
Format:	Book Chapter
Language:	Russian
Subjects:	гетероэпитаксиальные пленки рентгеновская дифрактометрия наногетероструктуры оптоэлектроники статьи в сборниках
Online Access:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000659586


LEADER	01548naa a2200289 c 4500
001	vtls000659586
003	RU-ToGU
005	20241205130610.0
007	cr \|
008	190627s2018 ru fs 100 0 rus d
035			\|a to000659586
040			\|a RU-ToGU \|b rus \|c RU-ToGU
100	1		\|a Карева, Катерина Валерьевна
245	1	0	\|a Исследование эпитаксиальных гетерослоев GeSi/Si методом рентгеновской дифрактометрии \|c К. В. Карева, В. В. Дирко, В. А. Заяханов
246	1	1	\|a The study of GeSi / Si epitaxial heterolayers by X-ray diffractometry
504			\|a Библиогр.: 4 назв.
653			\|a гетероэпитаксиальные пленки
653			\|a рентгеновская дифрактометрия
653			\|a наногетероструктуры оптоэлектроники
655		4	\|a статьи в сборниках
700	1		\|a Дирко, Владимир Владиславович
700	1		\|a Заяханов, Владимир Александрович
773	0		\|t Физика твердого тела : сборник материалов XVI Российской научной студенческой конференции, Томск, 17–20 апреля 2018 г. \|d Томск, 2018 \|g С. 205-206 \|z 9785895036167
852	4		\|a RU-ToGU
856	4		\|u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000659586
908			\|a статья
999			\|c 458039 \|d 458039

Similar Items