LEADER 01548naa a2200289 c 4500
001 vtls000659586
003 RU-ToGU
005 20241205130610.0
007 cr |
008 190627s2018 ru fs 100 0 rus d
035 |a to000659586 
040 |a RU-ToGU  |b rus  |c RU-ToGU 
100 1 |a Карева, Катерина Валерьевна 
245 1 0 |a Исследование эпитаксиальных гетерослоев GeSi/Si методом рентгеновской дифрактометрии  |c К. В. Карева, В. В. Дирко, В. А. Заяханов 
246 1 1 |a The study of GeSi / Si epitaxial heterolayers by X-ray diffractometry 
504 |a Библиогр.: 4 назв. 
653 |a гетероэпитаксиальные пленки 
653 |a рентгеновская дифрактометрия 
653 |a наногетероструктуры оптоэлектроники 
655 4 |a статьи в сборниках 
700 1 |a Дирко, Владимир Владиславович 
700 1 |a Заяханов, Владимир Александрович 
773 0 |t Физика твердого тела : сборник материалов XVI Российской научной студенческой конференции, Томск, 17–20 апреля 2018 г.  |d Томск, 2018  |g С. 205-206  |z 9785895036167 
852 4 |a RU-ToGU 
856 4 |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000659586 
908 |a статья 
999 |c 458039  |d 458039