Синтез тестов для цифровых систем на высоком и низком уровнях абстракции
Исследуется задача построения тестов с гарантированной полнотой для последовательностных цифровых систем. Рассматриваются тесты, нацеленные как на обнаружение в логических схемах низкоуровневых неисправностей различных типов, так и на более высокий функциональный уровень. Для построения тестов...
| Published in: | Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 47. С. 110-117 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000661796 Перейти в каталог НБ ТГУ |