Синтез тестов для цифровых систем на высоком и низком уровнях абстракции
Исследуется задача построения тестов с гарантированной полнотой для последовательностных цифровых систем. Рассматриваются тесты, нацеленные как на обнаружение в логических схемах низкоуровневых неисправностей различных типов, так и на более высокий функциональный уровень. Для построения тестов...
| Published in: | Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 47. С. 110-117 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000661796 Перейти в каталог НБ ТГУ |
| Summary: | Исследуется задача построения тестов с гарантированной полнотой для последовательностных цифровых систем. Рассматриваются тесты, нацеленные как на обнаружение в логических схемах низкоуровневых неисправностей различных типов, так и на более высокий функциональный уровень. Для построения тестов по модели логической схемы используется мутационный подход. При построении тестов с гарантированной полнотой для автоматной модели, т.е. модели более высокого уровня, тесты, построенные по логической схеме, дополняются последовательностями, которые позволяют покрыть ранее не покрытые переходы соответствующего конечного автомата. Расширенные тесты являются полными как относительно мутантов логической схемы, так и относительно автоматных ошибок. Приводятся результаты компьютерных экспериментов с описаниями последовательностных логических схем и соответствующими им конечными автоматами, подтверждающие эффективность предложенного подхода. |
|---|---|
| Bibliography: | Библиогр.: 14 назв. |
| ISSN: | 1998-8605 |