Синтез тестов для цифровых систем на высоком и низком уровнях абстракции
Исследуется задача построения тестов с гарантированной полнотой для последовательностных цифровых систем. Рассматриваются тесты, нацеленные как на обнаружение в логических схемах низкоуровневых неисправностей различных типов, так и на более высокий функциональный уровень. Для построения тестов...
| Published in: | Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 47. С. 110-117 |
|---|---|
| Main Author: | |
| Other Authors: | |
| Format: | Article |
| Language: | Russian |
| Subjects: | |
| Online Access: | http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000661796 Перейти в каталог НБ ТГУ |
| LEADER | 03645nab a2200349 c 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | vtls000661796 | ||
| 003 | RU-ToGU | ||
| 005 | 20230319215634.0 | ||
| 007 | cr | | ||
| 008 | 190906|2019 ru s c rus d | ||
| 024 | 7 | |a 10.17223/19988605/47/13 |2 doi | |
| 035 | |a to000661796 | ||
| 039 | 9 | |a 201909180913 |c 201909061511 |d VLOAD |y 201909061442 |z Александр Эльверович Гилязов | |
| 040 | |a RU-ToGU |b rus |c RU-ToGU | ||
| 100 | 1 | |a Лапутенко, Андрей Владимирович |9 46182 | |
| 245 | 1 | 0 | |a Синтез тестов для цифровых систем на высоком и низком уровнях абстракции |c А. В. Лапутенко, Е. М. Винарский |
| 246 | 1 | 1 | |a Deriving tests for digital circuits at lower and higher abstraction levels |
| 504 | |a Библиогр.: 14 назв. | ||
| 520 | 3 | |a Исследуется задача построения тестов с гарантированной полнотой для последовательностных цифровых систем. Рассматриваются тесты, нацеленные как на обнаружение в логических схемах низкоуровневых неисправностей различных типов, так и на более высокий функциональный уровень. Для построения тестов по модели логической схемы используется мутационный подход. При построении тестов с гарантированной полнотой для автоматной модели, т.е. модели более высокого уровня, тесты, построенные по логической схеме, дополняются последовательностями, которые позволяют покрыть ранее не покрытые переходы соответствующего конечного автомата. Расширенные тесты являются полными как относительно мутантов логической схемы, так и относительно автоматных ошибок. Приводятся результаты компьютерных экспериментов с описаниями последовательностных логических схем и соответствующими им конечными автоматами, подтверждающие эффективность предложенного подхода. | |
| 653 | |a конечные автоматы | ||
| 653 | |a тестовые последовательности | ||
| 653 | |a мутационный подход | ||
| 653 | |a обход графа переходов | ||
| 653 | |a последовательностные цифровые системы | ||
| 655 | 4 | |a статьи в журналах |9 879358 | |
| 700 | 1 | |a Винарский, Евгений Максимович |9 497990 | |
| 773 | 0 | |t Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика |d 2019 |g № 47. С. 110-117 |x 1998-8605 |w 0210-40860 | |
| 852 | 4 | |a RU-ToGU | |
| 856 | 4 | |u http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000661796 | |
| 856 | |y Перейти в каталог НБ ТГУ |u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=459276 | ||
| 908 | |a статья | ||
| 999 | |c 459276 |d 459276 | ||