Расчет профилей состава квантовых структур (HgTe-Hg1-xCdxTe)n в процессе их роста методом in situ эллипсометрии

Расчет профилей состава квантовых структур (HgTe-Hg1-xCdxTe)n в процессе их роста методом in situ эллипсометрии

Bibliographic Details
Published in:XIV Российская конференция по физике полупроводников, 9-13 сентября 2019 г., Новосибирск : тезисы докладов Ч. 1. С. 189
Other Authors: Дворецкий, Сергей Алексеевич, Михайлов, Николай Николаевич физик, Икусов, Данил Геннадьевич, Ужаков, Иван Николаевич, Швец, Василий Александрович
Format: Book Chapter
Language:Russian
Subjects:
квантовые ямы
Эллипсометрия
экспериментальные исследования
статьи в журналах
Online Access:http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000759504

Internet

http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000759504

Similar Items