Morphology, structure, and optical properties of SnO (x) films

The paper presents the morphological, structural, and optical properties of nanostructured SnO (x) films obtained by molecular beam epitaxy using deposition of tin in an oxygen flux on an oxidized silicon substrate as a function of the annealing temperature of the synthesized structure. The effect...

Полное описание

Библиографическая информация

Опубликовано в: :	Russian physics journal Vol. 63, № 2. P. 276-281
Другие авторы:	Timofeev, V. A., Mashanov, Vladimir I., Azarov, Ivan A., Loshkarev, Ivan D., Korolkov, Ilya V., Gavrilova, Tatiana A., Esin, M. Yu, Nikiforov, Alexander I.
Формат:	Статья в журнале
Язык:	English
Предметы:	оксид олова эпитаксия наноструктуры дифракция рентгеновских лучей коэффициент поглощения статьи в журналах
Online-ссылка:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000794757 Перейти в каталог НБ ТГУ