Построение проверяющих тестов для одиночных и кратных константных неисправностей на полюсах элементов схем, синтезированных на базе ПЛИС (FPGA)-технологий по системе Free BDD-графов

Устанавливается, что для схем, построенных покрытием системы Free BDD-графов программируемыми логическими блоками (ПЛБ), не каждая одиночная константная неисправность на полюсах ПЛБ обнаружима. Проверяющий тест, обнаруживающий все кратные константные неисправности на полюсах ПЛБ, предлагается стро...

Full description

Bibliographic Details

Published in:	Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика № 1. С. 81-98
Main Author:	Николаева, Екатерина Александровна
Format:	Article
Language:	Russian
Subjects:	комбинационные схемы одиночные константные неисправности кратные константные неисправности проверяющие тесты статьи в журналах
Online Access:	http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000565705 Перейти в каталог НБ ТГУ