Физические основы метрологии полупроводниковых фотоматериалов и тестирование сложных соединений на основе арсенида галлия
| Опубликовано в: : | Материалы седьмой российской конференции "Арсенид галлия" "GaAs-99", Томск, 21-23 октября, 1999 г. : посвящается 35-летию ФГУП "НИИПП С. 60-61 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Другие авторы: | |
| Формат: | Статья в сборнике |
| Язык: | Russian |
| Предметы: | |
| Online-ссылка: | Перейти в каталог НБ ТГУ |