Физические основы метрологии полупроводниковых фотоматериалов и тестирование сложных соединений на основе арсенида галлия

Bibliographic Details
Published in:	Материалы седьмой российской конференции "Арсенид галлия" "GaAs-99", Томск, 21-23 октября, 1999 г. : посвящается 35-летию ФГУП "НИИПП С. 60-61
Main Author:	Юрченко, Алексей Васильевич
Other Authors:	Юрченко, Василий Иванович
Format:	Book Chapter
Language:	Russian
Subjects:	арсенид галлия полупроводниковое материалы солнечные элементы метрология фотоматериалов труды ученых ТГУ
Online Access:	Перейти в каталог НБ ТГУ


LEADER	01483naa a2200253 4500
001	koha000655997
008	210630s1999 ru f 10 0 rus d
035			\|a koha000655997
039			\|z 26 \|b 100
040			\|a RU-ToGU \|b rus \|c RU-ToGU
100	1		\|a Юрченко, Алексей Васильевич \|9 70471
245	1	0	\|a Физические основы метрологии полупроводниковых фотоматериалов и тестирование сложных соединений на основе арсенида галлия \|c А. В. Юрченко, В. И. Юрченко
504			\|a Библиогр.: 1 назв.
653			\|a арсенид галлия
653			\|a полупроводниковое материалы
653			\|a солнечные элементы
653			\|a метрология фотоматериалов
653			\|a труды ученых ТГУ
700	1		\|a Юрченко, Василий Иванович \|9 218992
773	0		\|t Материалы седьмой российской конференции "Арсенид галлия" "GaAs-99", Томск, 21-23 октября, 1999 г. : посвящается 35-летию ФГУП "НИИПП \|d Томск, 1999 \|g С. 60-61 \|w 0143-10460
852		4	\|a RU-ToGU \|n ru
856			\|y Перейти в каталог НБ ТГУ \|u https://koha.lib.tsu.ru/cgi-bin/koha/opac-detail.pl?biblionumber=655997
908			\|a статья
999			\|c 655997 \|d 655997

Similar Items